工科大学物理实验与光电子专业实验1讲义编写计划 本文关键词：工科，光电子，讲义，编写，物理实验
工科大学物理实验与光电子专业实验1讲义编写计划 本文简介：工科大学物理实验与光电子专业实验1讲义编写计划1.编写实验讲义编写要求参考《大学物理实验讲义》2009版内容，包括：实验目的、实验用具、实验原理、仪器介绍、实验内容与要求、注意事项和思考问题。2．写测试报告3.10月份检查完成情况。部分实验要求17周交稿（下学期实验使用）实验项目分工表实验室名称房间
工科大学物理实验与光电子专业实验1讲义编写计划 本文内容：
工科大学物理实验与光电子专业实验1讲义编写计划
1.
编写实验讲义
编写要求参考《大学物理实验讲义》2009版内容，包括：实验目的、实验用具、实验原理、仪器介绍、实验内容与要求、注意事项和思考问题。
2．
写测试报告
3.
10月份检查完成情况。部分实验要求17周交稿（下学期实验使用）
实验项目分工表
实验室名称
房间
编号
实验项目
实验
序号
厂家
教师
分工
备注
基础物理实验室（力学）
402
杨氏模量的测定
1
港东
李远兴
刚体转动惯量的测定
2
天煌
张梅
基础物理实验室（力、热学）
406
波尔共振实验
3
中科
李远兴
空气热机实验
4
李远兴
基础物理实验室（热学）
404
导热系数的测定
5
李柱峰
PN结正向压降温度特性研究
6
天煌
李柱峰
半导体制冷实验
半导体发电实验
7
天煌
李柱峰
基础物理实验室（电磁学1）
405
示波器的原理和使用
8
中科
周党培
RC电路暂态特性研究
9
周党培
铁磁材料特性参数的测量
10
天煌
周党培
夫兰克－赫兹实验
11
中科
李远兴
基础物理实验室（电磁学2）
408
霍尔效应法测量磁场
12
天煌
李远兴
磁阻效应法测量磁场
13
中科
李远兴
基础物理实验室（电磁学3）
409
半导体二极管特性的研究
14
李柱峰
电表设计与制作
FB715型实验装置（11个实验）
15
李柱峰
基础物理实验室（光学1）
303
偏振光实验
16
港东
李远兴
17周交稿
衍射光强测量实验
17
港东
李远兴
17周交稿
基础物理实验室（光学2）
305
迈克尔逊干涉仪
白光干涉
18
精飞
李远兴
用分光计测三棱镜折射率
19
浙光
申冬玲
光栅衍射法测量波长
20
申冬玲
基础物理实验室（光学3）
307
牛顿环测曲率半径
21
浙光
李远兴
超声光栅声速测定
22
李远兴
折射率和旋光率的测量(408室)
23
何鑫
17周交稿
基础物理实验室（光学4）
315
光学平台（26个实验）
24
港东
李远兴
张梅10个
基础物理实验室（综合1）
403
声速的测定
25
大华
李远兴
多普勒效应实验
26
大华
李远兴
CCD特性综合实验
27
中科
周党培
17周交稿
基础物理实验室（综合2）
407
液晶电光效应实验
28
中科
李远兴
音频信号光纤传输技术实验
29
天煌
周党培
光谱实验室
317
傅立叶变换光谱实验(XGF-1)
1
浙光
港东
李远兴
10月检查
氢原子光谱的研究(WPL-2)
2
申冬玲
拉曼光谱实验(LRS-2)
3
申冬玲
光谱测量系列实验
组合式多功能光栅光谱仪(WGD-4B
2台，
WGD-8A
1台；WGD-300B自动光栅单色仪2台)
4
申冬玲
何鑫
激光实验室
318
半导体泵浦激光原理实验
5
港东
龙拥兵
激光器特性及其参数测量实验
6
龙拥兵
半导体激光器系列实验
7
龙拥兵
氦氖激光器模式分析实验
8
龙拥兵
光学非线性测量实验
9
龙拥兵、何鑫
单光子计数实验
10
龙拥兵
晶体电光调制实验
11
龙拥兵、何鑫
信息光学与微波实验室
319
光纤信息及光通信实验(15个实验)
12
港东
周党培
光波导测试实验(4个实验)
13
陈海澜
电寻址液晶光阀实验(6个实验)
14
港东
范东华
白光光学图像信息处理实验
15
港东
白钰
微波光学实验（11个实验）
16
中科
李远兴、白钰7个
微波实验系统
17
大华
陈海澜
光电传感器实验室
415
传感器技术系列实验（CSY998C）
39个实验
18
高联
陈毅湛、李远兴
何鑫5个、徐维5个
其中4个实验17周交稿
光电传感器系列实验（CSY2000G）
16个实验
19
陈毅湛
周党培
光电特性综合实验(CSY-GLGD01)
15个实验
20
陈毅湛
李柱峰
激光光电测试系列实验(CSY-GLJT)
26个实验
21
陈毅湛
李阳16个
近代物理实验室
416
超声成像实验
22
精科
赵丽特
超声GPS（三维声纳）定位实验
23
精科
赵丽特
赛曼效应实验
24
精飞
范东华
核磁共振实验
25
大华
范东华
普朗克常数测定
26
港东
赵丽特
多普勒效应实验
27
精科
赵丽特
双光栅微弱振动测量实验
28
精科
赵丽特
建筑物理实验室1
418
建筑日照实验
1
北京
世纪
建通
李柱峰
检验侧窗采光房间的实际采光效果
2
李柱峰
检验室内亮度分布状况
3
李柱峰
建筑物理实验室2
419
驻波管法吸声系数测量
4
李柱峰
热环境参数的测定
5
李柱峰
环境噪声测量
6
李柱峰
415室
CSY998C传感器技术实验仪
1、
应变片性能——单臂、半桥、全桥电桥
2、
应变片全桥性能——电子称实验
3、
应变片的温度效应及补偿
4、
热电偶的原理及现象
5、
移相器实验
6、
相敏检波器实验
7、
应变片——交流全桥
8、
交流全桥的应用——振幅测量
9、
流全桥的应用——电子称之一
10、
差动变压器（互感式）的性能
11、
差动变压器（互感式）零点残余电压补偿实验
12、
差动变压器（互感式）的标定
13、
差动变压器（互感式）的应用——振动测量
14、
差动变压器（互感式）的应用——电子秤之二
15、
差动螺管式（自感式）传感器的静态位移性能
16、
差动螺管式（自感式）传感器的动态位移性能
17、
电涡流式传感器的静态标定
18、
被测体材料对电涡流传感器特性的影响
19、
电涡流传感器的应用——振幅测量
20、
电涡流传感器的应用——电子秤之三
21、
霍尔传感器的直流激励静态位移特性
22、
霍尔传感器的应用——电子秤之四
23、
霍尔传感器的交流激励静态位移特性实验
24、
霍尔传感器的应用——振幅测量
25、
磁电式传感器的性能
26、
压电传感器的动态响应实验
27、
压电传感器引线电容对电压放大器的影响、电荷放大器
28、
差动面积式电容传感器的静态特性
29、
差动面积式电容传感器的动态特性
30、
双平行梁的动态特性——正弦稳态影响
31、
扩散硅压阻式压力传感器实验
32、
光纤位移传感器静态实验
33、
光纤位移传感器动态实验
34、
PN结温度传感器测温实验
35、
热敏电阻测温演示实验
36、
气敏传感器(MQ3)实验
37、
湿敏电阻(RH)实验
38、
光电传感器(反射型)测转速实验
39、
光电式光开关测转速实验
415室
CSY2000G光电传感器实验台
1、
光电基础知识实验
2、
光敏电阻实验
3、
光敏二极管特性实验
4、
光敏三极管特性实验
5、
光电池实验
6、
光开关实验（透射式）
7、
红外反射式光电开关实验（反射光耦）
8、
热释电红外传感器实验
9、
光源及光调制解调实验
10、
PSD位置传感器实验
11、
光纤位移传感器实验
12、
光纤温度传感器实验
13、
光纤压力传感器实验
14、
光电转速传感器的转速测量
15、
CCD电荷藕荷器件测定直径实验
16、
光栅位移传感器实验
415室
CSY-GLGD01光电特性综合实验台
1、
单色仪定标实验
2、
光电基础知识实验
3、
光开关实验（透射式）
4、
红外线反射式光电开关（光耦）
5、
热释电红外传感器实验
6、
光源及光调制解调实验
7、
光电转速传感器的转速测量
8、
LED&LD伏安（V/I）特性、光电转换（P/I）特性实验
9、
LED&LD光强空间分布及半值角测量实验
10、
LED&LD光谱特性实验
11、
光电探测器光谱响应度和暗电流测试
12、
光电倍增管特性测试
13、
APD雪崩光电二极管特性测试
14、
激光衍射光强分布实验
15、
莫尔条纹自动
415室
CSY-GLJT01激光多功能光电测试系统实验仪
1、
精密位移量的激光干涉测量
2、
数字干涉测量方法
3、
面形的三维干涉测量及评价
4、
光学玻璃的波差测量
5、
光学系统的PSF及MTF评价
6、
光学玻璃均匀性测量
7、
缝宽或间隙的衍射测量
8、
微孔直径的衍射测量
9、
巴俾特原理及细丝直径测量
10、
变形的全场衍射测量
11、
透镜的FT性质及图形的光学频谱分析
12、
4f光学系统FT及IFT系统
13、
图像信息处理的光学实现
14、
光散斑的性质及测试方法
15、
面内位移的散斑测量
16、
形变的散斑测量
17、
速度测量及振动监视
18、
散斑编码及图象处理方法
19、
激光共焦测量的原理及实验
20、
三维形貌层析的共焦测量
21、
位移的纳米量测量方法
22、
微弱振动的纳米测量与监视
23、
光纤传感技术的原理与实验
24、
光纤干涉技术及应用实验
25、
薄透镜成像实验
26、
薄透镜焦距测量
319室
ZKY-WB微波光学实验仪
1、
微波的反射
2、
驻波-测量波长
3、
棱镜的折射
4、
偏振
5、
双缝干涉
6、
劳埃德镜
7、
法布里-罗布干涉仪
8、
迈克尔逊干涉仪
9、
布儒斯特角
10、
布喇格衍射
11、
纤维光学
SGQ-2型光纤信息及光通信实验系统
1.光纤光学基本知识演示实验
2.光纤与光源耦合方式实验
3.多模光纤数值孔径（NA）测量实验
4.光纤传输损耗性质及测量实验
5.光纤分束器参数测量实验
6.可调光衰减器及参数测量实验
7.光纤隔离器及参数测量实验
8.光纤光开光实验
9.波分复用（WDM）原理性实验
10.M-Z光纤干涉实验
11.光纤温度传感原理实验
12.光纤压力传感原理实验
13.光发射机消光比测量实验
14.掺铒光纤放大器原理性实验
15.开路音频模拟信号传输实验
GBG型光波导测试仪
1．用对称棱镜耦合器的光波导m线实验；
2．用直角棱镜耦合器的光波导输入和输出耦合实验；
3．由模折射率确定介质薄膜的厚度、折射率和折射率分布；
4．金属包复光波导参数测量等。
XGY-1型电寻址液晶光阀实验仪
1．
液晶的电光效应实验；
2．
用衍射理论测量电寻址液晶光阀的微结构；
3．
光的干涉和衍射实验；
4．
计算全息光学实验；
5．
全息图衍射效率的测量实验；
6．
傅立叶变换性质及全息性质的验证。
315室
光学平台
1用自准法测薄凸透镜焦距
2用两次成像法测凸透镜焦距
3由物象放大率测目镜焦距
4自组显微镜
5自组望远镜
6自组投影仪
7透镜组节点和焦距的测定
8自组带正像棱镜的望远镜
9杨氏双缝实验
10菲涅耳双棱镜干涉
11菲涅耳双镜干涉
12劳埃德镜干涉
13牛顿环
14夫琅禾费单缝衍射
15夫琅禾费圆孔衍射
16菲涅耳单缝衍射
17菲涅耳圆孔衍射
18菲涅耳直边衍射
19偏振光的产生和检验
20光栅衍射
21光栅单色仪
22全息照相
23制做全息光栅
24阿贝成像原理和空间滤波
25θ调制
26测定空气折射率
409室
FB715型设计性实验装置
1、
电路元件伏安特性的测绘
2、
基本电路的测量
3、
基本仪器的使用
4、
整流滤波电路
5、
稳压电路
6、
RC、RL暂态电路的研究
7、
RLC暂态电路的研究
8、
元件参数的测量
9、
电表的改装
10、
电桥电路
11、
电路混沌效应
篇2：实验室灼烫伤应急处理预案
实验室灼烫伤应急处理预案 本文关键词：烫伤，预案，应急处理，实验室
实验室灼烫伤应急处理预案 本文简介：海油碧路（南通）生物能源蛋白饲料有限公司CNOOCBIOLUX(Nantong)BioenergyProteinFeedCo.,Ltd文件编号CBBP-W-P-01版本号A.0发布日期2012-03-1标题实验室灼烫伤应急处理预案页码3/2海油碧路（南通）生物能源蛋白饲料有限公司CNOOCBIOLU
实验室灼烫伤应急处理预案 本文内容：
海油碧路（南通）生物能源蛋白饲料有限公司
CNOOC
BIOLUX
(Nantong)
Bioenergy
Protein
Feed
Co.,Ltd
文件编号
CBBP-W-P-01
版本号
A.0
发布日期
2012-03-1
标
题
实验室灼烫伤应急处理预案
页
码
3/
2
海油碧路（南通）生物能源蛋白饲料有限公司
CNOOC
BIOLUX
(Nantong)
Bioenergy
Protein
Feed
Co.,Ltd
应急预案
实验室灼烫伤应急处理预案
文件编号：CBBP-W-P-01
版
本：A.0
发布日期：2012-※-※
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审核
批准
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序号
修改章节/内容
新版本
发布日期
1
新文件
A.0
实验室灼烫伤应急处理预案
1.主要职责划分
1.1
实验室全体人员应经过培训，确保能够采取正确的措施预防和控制灼烫伤安全事故发生。
1.2实验室人员发生灼烫伤安全事故，应立即采取相应措施，立即报告实验室主管领导、HSE部
1.3
部门负责人负责向公司应急办公室报告事态状况。
1.3
公司应急办公室根据应急预案启动级别，通知或协调本公司及外部救援力量。
2发生灼烫伤安全事故
2.1
分析人员发生灼烫伤安全事故时，应立即报告上级主管，并参照处置方案实施自救。
2.2
报告时应简要说明发生灼烫伤的原因、灼烫伤程度，有无重大危险。
利于做好处理方案的实施。
3.
处置方案
3.1
接到现场报告后，主管应通知班组安全员立即赶赴现场，按照应急实验室灼烫伤应急处置方案，组织应急处置，控制事态发展。
3.2眼睛一旦眼内溅入任何化学药品引起灼伤或掉进异物，立即用大量水缓缓彻底冲洗。实验室内应备有专用洗眼水龙头。洗眼时要保持眼皮张开，可由他人帮助翻开眼睑，持续冲洗15分钟。忌用稀酸中和溅入眼内的碱性物质，反之亦然。
3.3皮肤灼伤①酸灼伤
先用大量水冲洗，以免深度受伤，再用稀NaHCO3溶液或稀氨水浸洗，最后用水洗。局部外用可的松软膏或紫草油软膏及硫酸镁糊剂。②碱灼伤先用大量水冲洗，再用1%硼酸或2%HAc溶液浸洗，最后用水洗。在受上述灼伤后，若创面起水泡，均不宜把水泡挑破。
3.4轻度烫伤或烧伤，可用药棉浸90~95%的酒精轻涂伤处，也可用冷水疗法止痛，或用3~5%的KMnO4溶液擦伤处至皮肤变为棕色，再涂凡士林或烫伤膏，直接涂烫伤药膏也可。
较重的烧伤或烫伤，不要弄破水泡，以防止感染。用消毒纱布轻轻包扎伤处送医院治疗
4.
灼烫伤处置须知
4.1烫伤后切勿用水冲洗。
4.2忌用稀酸中和溅入眼内的碱性物质，反之亦然。对因溅入碱金属、溴、磷、浓酸、浓碱或其它刺激性物质的眼睛灼伤者，急救后必须迅速送往医院检查治疗。。
5.
灼烫伤事故的预防
5.1做蒸馏、油品加热、化工辅料取样等检测项目时，做好个人防护用品的佩戴，尤其是保护好眼睛，在化学实验室里应该一直配戴护目镜（平光玻璃或有机玻璃眼镜），防止眼睛受刺激性气体薰染，防止任何化学药品特别是强酸、强碱、玻璃屑等异物进入眼内。
5.2禁止用手直接取用任何化学药品，使用有毒化学药品时除用药匙、量器外必须配戴橡皮手套，实验后马上清洗仪器用具，立即用肥皂洗手。
5.3尽量避免吸入任何药品和溶剂蒸气。处理具有刺激性的、恶臭的和有毒的化学药品时，如H2S、NO2、Cl2、Br2、CO、SO2、SO3、HCl、HF、浓硝酸、发烟硫酸、浓盐酸、乙酰氯等，必须在通风橱中进行。通风橱开启后，不要把头伸入橱内，并保持实验室通风良好。
5.4禁止口吸吸管移取浓酸、浓碱、有毒液体，应该用洗耳球吸取。禁止冒险品尝药品试剂，不得用鼻子直接嗅气体，而是用手向鼻孔扇入少量气体。
5.5不要用乙醇等有机溶剂擦洗溅在皮肤上的药品，这种做法反而增加皮肤对药品的吸收速度。
5.6严格遵守实验室安全规则，实验室里严禁吸烟进食，禁止赤膊穿拖鞋。
5.7实验室配备急救箱，箱内需备有下列药剂和用品，以备事故发生时采取急救。
5.7.1
消毒剂：碘酒、75％的卫生酒精棉球等。
5.7.2外伤药：龙胆紫药水、消炎粉和止血粉。
5.7.3烫伤药：烫伤油膏、凡士林、玉树油、甘油等。
5.7.4化学灼伤药：5％碳酸氢钠溶液、2％的醋酸、l％的硼酸、5％的硫酸铜溶液、医用双氧水、三氯化铁的酒精溶液及高锰酸钾晶体。
篇3：计算机组成实验报告汇总
计算机组成实验报告汇总 本文关键词：汇总，实验，计算机，报告
计算机组成实验报告汇总 本文简介：计算机组成与体系结构实验报告实验项目一一、实验目的通过了解高级语言源程序和目标机器代码的不同表示及其相互转换，深刻理解高级语言和机器语言之间的关系，以及机器语言和不同体系结构之间的关系。二、实验要求：在VC6.0中创建下列源程序#includevoidmain(){inti=100;intj=-1;
计算机组成实验报告汇总 本文内容：
计算机组成与体系结构
实验报告
实验项目一
一、
实验目的
通过了解高级语言源程序和目标机器代码的不同表示及其相互转换，深刻理解
高级语言和机器语言之间的关系，以及机器语言和不同体系结构之间的关系。
二、
实验要求：
在VC6.0中创建下列源程序
#include
void
main()
{
int
i=100;
int
j=-1;
int
k;
k=i+j;
printf(“%d“,k);
}
然后对该程序进行编译、链接，最终生成可执行目标代码。
三、
实验报告
1.给出做实验的过程.
关键代码如下：
2.
给出源程序（文本文件）的内容（用十六进制形式表示）。
3.
给出可执行目标文件（二进制文件）的内容（用十六进制形式表示）。
4.
VC6.0调试环境：设置断点、单步运行、变量的值（十进制、十六进制）、变量的地址、变量的存储。
断点设置如下：
变量的值十进制：
变量的值十六进制：
变量的地址：
5.
VC6.0反汇编：查看源程序对应的汇编程序、可执行目标程序的二进制编码、了解如何给变量分配内存、系统函数程序段的调用。
6.
分析或回答下列问题。
（1）分析同一个源程序在不同机器上生成的可执行目标代码是否相同。
不相同。因为不同的机器硬件的组成不同，因此同一个源程序在不同的机器上生成的目标文件不同。
（2）你能在可执行目标文件中找出函数printf（）对应的机器代码段吗？能的话，请标示出来。
不能。因为源程序中的printf函数在可执行文件中已转换为机器语言。被翻译的机器语言中有printf函数，但是不知道是从哪一段开始翻译的。
（3）为什么源程序文件的内容和可执行目标文件的内容完全不同？
源程序文件可以直接编写。可执行文件是被言翻译过后的。
四、
实验总结和体会：
本次实验让我明白了通过vc6.0这个软件编写出来的高级语言源程序与目标机器代码的不同表示及其相互转换，深刻理解了内存的分配与机器码的相关知识，以及机器语言和不同体系结构之间的关系，使得课本上的知识与实验上的知识相结合。
实验项目二
一、实验目的：
1.通过无符号数和带符号整数之间的相互转换来理解无符号数和补码整数的表示。
2.了解字符、汉字的机器表示。
3.了解IEE754浮点数在机器中的应用，特别是一些特殊值的处理。
二、实验要求：
1.编写程序分析C语言中不同类型数据在计算机内部的表示。
2.验证教材表2.2中的关系表达式的结果，并编程得出第二章习题8的表中结果。
3.通过编程得出float和double类型的精度（即十进制有效位的位数）：检查“-8.0/0”、“sqrt（-4.0）”的运算结果，并将“-8.0/0”和“-8/0”的运行结果进行比较。
三、实验报告：
1.分析下列源程序中的变量在机器内是如何表示的，并给出程序的执行结果，要求给出分析过程。
#include
void
main(){
unsigned
short
i=65535;
int
j=-2147483648;
int
k=65536;
char
c1=
/n,c2=
x
;
float
x=100.25671;
double
y=567.89;
charstr=“01as计算机/n0
1
a
s//“;
printf(“%u/n“,j);
printf(“%f/n“,x);
printf(“%1d/n“,y);
printf(“%s/n“,str);
printf(“%d/n“,i*i);
}
根据实验结果，回答下列问题：
（1）你的机器字长多少位？int类型的位数、最小值和最大值各是多少？
答：机器字长：32位；int类型位数：32位；最小值：-2147483648；
最大值：2147483647
（2）在你的机器上，-1用int类型和unsiged
int类型表示的结果分别是多少？
2.编写程序验证教材表2.2中的关系表达式的结果，并编程得出第二章习题8的表中结果。要求给出分析过程。
验证2.2：
3.
通过编写程序回答下列问题（要求给出分析过程）：
（1）float类型和double类型的精度各是多少？（即十进制有效位的位数）
float精度是8位，double精度是16位。
（2）在你的机器上，“负数开方”是如何处理的?（如“-8.0/0”、“sqrt（-4.0）”的运算结果）
（3）在你的机器上，整数除0和浮点数除0的运行结果各是什么？为什么会有不同的运行结果？并将“-8.0/0”和“-8/0”的运行结果进行比较。
-8/0:
-8.0/0:
四、实验总结和体会：
我了知道了无符号数和带符号整数之间的相互转换来理解无符号数和补码整数的表示，以及一些简单的字符和汉字的机器表示，此外还了解了IEE754浮点数在机器中的应用。
实验项目三
五、
实验目的
1.了解数据在机器中的存放方式（存放顺序、对其方式）。
2.了解无符号数和带符号整数是如何进行扩展的。
3.不同数据类型之间是如何进行转换的。
六、
实验要求：
1.设计一个程序以检验你的机器是大端方式还是小端方式。以及检查内存变量（如结构或数组）是否按边界对其。
2.通过编程得出无符号数和带符号整数是如何进行扩展的。
3.编写程序说明不同数据类型之间进行转换时在表数范围和精度上的变化。
（1）给定一个short型数据-12345，分别转化为int、unsigned
short、unsigned
int、float类型的数据；
（2）给定一个int型数据2147483647，分别转化为short、unsigned
short、unsigned
int、float、double类型的数据；
（3）给定一个float型数据123456.789e5，转化成int、double型数据；
（4）给定一个double型数据123456.789e5，转化成int、float型数据。
七、
实验报告
1.给出源程序（文本文件）和执行结果。并回答下列问题。
（1）你的机器是大端方式还是小端方式？
大端方式
（2）内存变量是否按照边界对其？
2.分析下列源程序中的变量在机器内是如何表示的，以及各变量对应的十进制真值是多少，并说明无符号数和带符号整数的扩展操作方式是否相同？各是如何进行的？要求给出分析过程。
#include
void
main()
{
short
si
=
-32768;
unsigned
short
usi
=
si;
int
i
=
si;
unsigned
ui
=
usi;
}
无符号数和带符号整数的扩展操作方式不相同，无符号数扩展高位补0，有符号整数扩展高位补符号位。
3.给出源程序（文本文件）和执行结果，并回答下列问题：
（1）补码整数（如int型数）是否总能转换为等值的float类型数据？为什么？
int型数总能转换为等值的float型数据。因为float型数据的精度比int型数高。
（2）float型数据是否总能转换成等值的double型数据？为什么？
当float型数据的范围超出了float本来可以表示的精度范围时，float型数据就不能等值的转换为double型。因为double型数据表示的有效位数有12~14位。而float型数据只有5~7位。
（3）长数被截断成短数后可能发生什么现象？为什么？
当长数超出了短数的表示范围之后，若是被截断成短数，就会造成溢出。
4.分析下列源程序的执行结果，并给出分析过程。
#include
void
main()
{
float
x=-1.5e38;
float
y=1.5e38;
float
z=1.0;
int
i=(x+y)+z==z+(y+z);
printf(“%d/n“,i);
}
(x+y)+z这个式子的值为1.0，而x+(y+z)的值并不是1.0而是0，因为x+(y+z)中先计算(y+z)，而y=1.5e38,z=1.0浮点数相加需要先对阶，当对阶之后(y+z)就约等于y,所以x+(y+z)得值为0，所以这两个式子的结果是不相等的。
实验项目四
一、实验目的：
1.了解数据的校验机制。2.掌握海明码校验实施过程（选做）。3.掌握循环冗余码校验实施过程（选做）。
二、实验要求：
1.设计一个程序模拟奇偶校验实施过程（提示：主函数、发送函数、传输函数、校验函数）。
2.设计一个程序模拟海明码校验实施过程（提示：主函数、发送函数、传输函数、校验函数、纠错函数）。
3.设计一个程序模拟循环冗余码校验实施过程（提示：主函数、发送函数、传输函数、校验函数、纠错函数）。
三、实验报告：
1.给出源程序和执行结果。
#include
“stdio.h“#include
“stdlib.h“#include
“time.h“//校验函数
int
checked(int
data)
{
int
x
=
data;
int
count
=
0;
while
(x)
{
count
++;
x
=
x
}
if(count%2==1)return
data|0x80;
else
return
data;
}
//随机产生出错位
int
random(int
data)
{
int
x,p;
time_t
t;
srand(time(
x=rand()%9;
printf(“产生的随机数为：%d/n“,x);
if
(x)
{
p=data^(1
#include
#define
M
10
#define
N
100000
/*
#define
M
100
#define
N
10000/
/*
#define
M
1000
#define
N
1000/
/*
#define
M
10000
#define
N
100
#define
M
100000
#define
N
10/
void
assign_array_rows()
{
int
i,j;
static
short
a[M][N];
//short
a[M][N];
LARGE_INTEGER
start,finish,times;
QueryPerformanceFrequency(
QueryPerformanceCounter(
for(i
=
0;
i列.
2.
分析说明数组A分配在静态存储区，堆区和栈区，对for循环段的执行效率有没有影响。
由上图可以看出，数组A分配在静态存储区的访问速度，无论是行优先还是列优先都快于将数组分配在堆区和栈区。
4、
总结体会
本次实验本小组成员对程序在内存空间分配上有了进一步的了解，知道了数组的访问是如何进行的，在以后的编写程序中会更加有帮助，使得程序的执行更加的快。
实验项目一：算术逻辑运算实验
一、实验目的：
1.掌握简单运算器的组成以及数据传送通路。
2.验证运算功能发生器（74LS181）的组合功能。
3.按给定的数据完成几种指定的算术逻辑运算。
二、实验重点：
1.数据的传送
2.运算功能发生器（74LS181）的引脚功能的应用
三、实验难点：
1.工作过程的理解
四、实验任务：
1.计算74（加）26
2.计算74（减）26
3.计算-74（加）26
4.计算74（减）-26
5.计算74（与）26
6.计算74（或）267.完成《实验指导书》P7表1-2中指定的运算(选做)
五、实验原理：
实验中所用的运算器数据通路如上图所示。其中运算器由两片74LS181以并/串形式构成8位字长的ALU。运算器的两个数据输入端分别由两个锁存器（74LS273）锁存，锁存器的输入连至数据总线，数据输入开关用来给出参与运算的数据，并经过一三态门（74LS245）和数据总线相连。运算器的输出经过一个三态门（74LS245）和数据总线相连。数据显示灯已和数据总线相连，用来显示数据总线内容。
表1-1
74LS181功能表
S3
S2
S1
S0
M=0（算术运算）
M=1
（逻辑运算）
CN=1无进位
CN=0有进位
0
0
0
0
F=
F=A加1
F=
0
0
0
1
F=
F=（）加1
F=
0
0
1
0
F=
F=（）加1
F=
0
0
1
1
F=0减1
F=0
F=
0
1
0
0
F=加
F=加加1
F=
0
1
0
1
F=（）加
F=（）加加1
F=
0
1
1
0
F=减减1
F=减
F=
0
1
1
1
F=减1
F=
F=
1
0
0
0
F=加
F=加加1
F=
1
0
0
1
F=加
F=加加1
F=
1
0
1
0
F=（）加
F=（）加加1
F=
1
0
1
1
F=减1
F=
F=
1
1
0
0
F=加
F=加加1
F=1
1
1
0
1
F=（）加
F=（）加加1
F=
1
1
1
0
F=（）加
F=（）加加1
F=
1
1
1
1
F=减1
F=
F=
六、实验过程描述：(详细实验过程及实验结果)
②开关复位：
检查实验箱的复位开关是否关闭，如果没有，则关闭。
③打开电源，启动：
电源接口在实验箱的后面，接上电源，电源开关在实验箱的右侧，将开关制为1，启动。
④初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
⑤输入数据A：01000110
⑥输入数据B：00011010
⑦计算：S3S2S1S0M
10010
⑧输出结果：01100010
任务2：
①连线：
②开关复位：
检查实验箱的复位开关是否关闭，如果没有，则关闭。
③打开电源，启动：
电源接口在实验箱的后面，接上电源，电源开关在实验箱的右侧，将开关制为1，启动。
④初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
⑤输入数据A：01000110
⑥输入数据B：00011010
⑦计算：S3S2S1S0M
11110
⑧输出结果：0011000
任务三：
①连线：
②开关复位：
检查实验箱的复位开关是否关闭，如果没有，则关闭。
③打开电源，启动：
电源接口在实验箱的后面，接上电源，电源开关在实验箱的右侧，将开关制为1，启动。
④初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
⑤输入数据A：10111010
⑥输入数据B：00011010
⑦计算：S3S2S1S0M
10010
⑧输出结果：11010000
任务四：
①连线：
②开关复位：
检查实验箱的复位开关是否关闭，如果没有，则关闭。
③打开电源，启动：
电源接口在实验箱的后面，接上电源，电源开关在实验箱的右侧，将开关制为1，启动。
④初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
⑤输入数据A：01000110
⑥输入数据B：11100110
⑦计算：S3S2S1S0M
11110
⑧输出结果：01100010
任务五：
①连线：
②开关复位：
检查实验箱的复位开关是否关闭，如果没有，则关闭。
③打开电源，启动：
电源接口在实验箱的后面，接上电源，电源开关在实验箱的右侧，将开关制为1，启动。
④初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
⑤输入数据A：01000110
⑥输入数据B：00011010
⑦计算：S3S2S1S0M
10111
⑧输出结果：00000010
7、
实验总结：
做实验之前没有好好看书做好准备
，再加上老师讲的有时候没有认真听，有些细节方面掌握的不是很好，做实验的时候手忙脚乱。后来通过看课件演示以及向同学请教才学会如何操作，后来又操作了几次，完全掌握了。通过这次实验对计算机的硬件方面有了一个更深的了解，很有趣。希望在以后的实验中能够课前做好准备，这样才能在实验时候提高效率。
实验项目二：进位控制实验
一、实验目的：
1.验证带进位控制的算术运算功能发生器的功能。
2.按给定的数据完成几种指定的算术运算。
二、实验重点：
1.进位锁存器的工作原理
三、实验难点：
1.进位锁存器的工作原理
四、实验任务：
1.计算-60（加）104
2.计算100（加）40
3.计算120（减）74
4.计算54（减）74
五、实验原理：
CY
(进位LED指示灯)
最高位有进位时CY灯灭，
无进位时CY灯亮
进位控制运算器的实验原理如上图所示，在实验一的基础上增加进位控制部分，其中181的进位进入一个锁存器，其写入是由T4和AR信号控制，T4是脉冲信号，实验时将T4连至信号单元的TS4上。AR是电平控制信号（低电平有效），可用于实现带进位控制实验，而T4脉冲是将本次运算的进位结果锁存到进位锁存器中。
六、实验过程描述：(详细实验过程及实验结果)
任务1：
①连线：连线图
②开关复位：
检查实验箱的复位开关是否关闭，如果没有，则关闭。
③打开电源，启动：
电源接口在实验箱的后面，接上电源，电源开关在实验箱的右侧，将开关制为1，启动。
④初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
AR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
0
1
1
⑤输入数据A：1
1
0
0
0
1
0
0
⑥输入数据B：0
1
1
0
1
0
0
0
⑦计算：S3S2S1S0M
10010
⑧输出结果：1
0
0
1
0
1
1
0
0
⑨检验进位
进位是1
任务2：
①连线：连线图
②开关复位：
检查实验箱的复位开关是否关闭，如果没有，则关闭。
③打开电源，启动：
电源接口在实验箱的后面，接上电源，电源开关在实验箱的右侧，将开关制为1，启动。
④初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
AR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
0
1
1
⑤输入数据A：0
1
1
0
0
1
0
0
⑥输入数据B：0
0
1
0
1
0
0
0
⑦计算：S3S2S1S0M
10010
⑧输出结果：1
0
0
0
1
1
0
0
⑨检验进位
没有进位
任务3：
①连线：连线图
②开关复位：
检查实验箱的复位开关是否关闭，如果没有，则关闭。
③打开电源，启动：
电源接口在实验箱的后面，接上电源，电源开关在实验箱的右侧，将开关制为1，启动。
④初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
AR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
0
1
1
⑤输入数据A：0
1
1
1
1
0
0
0
⑥输入数据B：0
1
0
0
1
0
1
0
⑦计算：S3S2S1S0M
11110
⑧输出结果：1
0
0
1
0
1
1
1
0
⑨检验进位
进位是
1
任务4：
①连线：连线图
②开关复位：
检查实验箱的复位开关是否关闭，如果没有，则关闭。
③打开电源，启动：
电源接口在实验箱的后面，接上电源，电源开关在实验箱的右侧，将开关制为1，启动。
④初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
AR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
0
1
1
⑤输入数据A：0
0
1
1
0
1
1
0
⑥输入数据B：0
1
0
0
1
0
1
0
⑦计算：S3S2S1S0M
11110
⑧输出结果：1
1
1
0
1
1
0
0
⑨检验进位
没有进位
7、
实验总结：
再次做实验相比上次有了很大的进步，操作起来更加熟练，，听完老师的讲解后，能够快速的连接好线路。在做实验的过程中出现最多的问题就是进位时候CY亮的问题，一直不能很好的掌握。在操作了几次以及请教同学后才有了一个大致的了解，但不是每次做都能成功，希望以后能够加强练习，更好地掌握。
实验项目五：存储器实验
一、实验目的：
1.
掌握静态随机存储器RAM工作特性。
2.
掌握静态随机存储器RAM的数据读写方法。
二、实验重点：
1.半导体双端口静态存储器7130的读写
三、实验难点：
1.半导体双端口静态存储器7130的读写工作时序
四、实验内容：
1、从右端口给存储器的00、01、02地址单元中分别写入数据11H、22H、33H；
2、然后从右端口依次读出00、01、02地址单元中的内容，在数据总线单元的指示灯上进行显示，观察上述各单元中的内容是否与前面写入的一致。
五、实验原理：
实验所用的半导体双端口静态存储器电路原理如上图所示，实验中的双端口静态存储器的左端口和右端口,它们分别具有各自独立的地址线（A0—A9）、数据线（I/O0—I/O7）和控制线（R/W，CE，OE，BUSY）。在实验系统的大多数实验中，该芯片仅使用了右端口的数据线、地址线、控制线，使用方法与通用的单端口静态存储器相同；在做与流水相关的实验中同时用到了它的左、右端口。本节实验中左、右端口数据线接至数据总线，左、右端口地址由地址锁存器（74LS273）给出。地址灯LI01—LI08与地址总线相连，显示地址内容。输入单元的数据开关经一个三态门（74LS245）连至数据总线，分别给出地址和数据。
地址总线为8位，接入IDT7130的地址AL7—AL0与AR0－AR7，将IDT7130的高两位AR8－AR9接地，所以其实际容量为256字节。IDT7130两个端口分别有三个独立的控制线，如右边有：CER（右端口片选线）、OER（右端口读线）、R/WR（右端口写线）。本实验中将左、右端口的读线OER常接地，在此情况下，当CER=0、R/WR=0时进行右端口写操作，CER=0、R/WR=1时进行右端口读操作，其写时间与T3脉冲宽度一致。原理图中右端口的地址线AR8－AR9接地，其访问实际容量为256字节。同时由于左端口的写信号R/WL常接高电平，所以左端口的写功能被封锁了，故实验时输入数据从右端口写入，从左端口读出。实验时，将T3脉冲接至实验板上时序电路模块的TS3相应插针中，其它电平控制信号由开关单元的二进制开关给出，其中SW_G为低电平有效，LDAR为高电平有效。
六、实验过程描述：(详细实验过程及实验结果)
任务1：
①连线：连线图
②开关复位：
检查实验箱的复位开关是否关闭，如果没有，则关闭。
③打开电源，启动：
电源接口在实验箱的后面，接上电源，电源开关在实验箱的右侧，将开关制为1，启动。
④写第一个数据：
⑴初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
⑵送地址：0000
0000
⑶送数据：0000
1011
⑷发写命令：CE—>0,WE—>0
⑤写第二个数据：
⑴初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
⑵送地址：0000
0001
⑶送数据：0001
0110
⑷发写命令：CE—>0,WE—>0
⑥写第三个数据：
⑴初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
⑵送地址：0000
0010
⑶送数据：0010
0001
⑷发写命令：CE—>0,WE—>0
任务2：
①读第一个数据：
⑴初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
⑵送地址：0000
0000
⑶发读命令：CE—>0
⑷输出数据：0000
1011
②读第二个数据：
⑴初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
⑵送地址：0000
0001
⑶发读命令：CE—>0
⑷输出数据：0001
0110
③读第三个数据：
⑴初始化：
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
S3
S2
S1
S0
M
CN
LDDR2
LDDR1
SW_G
ALU_G
CLR
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
0
0
1
1
1
⑵送地址：0000
0010
⑶发读命令：CE—>0
⑷输出数据：0010
0001
7、
实验总结：
做了几次试验之后
，对硬件试验有了基本的了解
，操作的时候不会再像之前手忙脚乱了。老师讲解之后能够快速连接好电路，并按照操作步骤完成任务。但是由于老师讲的时候没有太认真的听，导致一些细节方面的不会操作，所以实验一直出现错误。后来还是请教同学才解决的。以后
老师讲解的时候一定要注意听，这样才能提高效率。
实验项目十二：总线控制实验
一、实验目的：
1.
理解总线的概念及其特性。
2.
掌握总线传输控制特性。
二、实验重点：
1.
总线传输控制
2．LED数码管的工作原理
三、实验难点：
1.通过总线实现输入输出的工作过程
四、实验内容：
1、模拟内存与外设的信息交换
①输入设备将地址80H写入地址寄存器
②输入设备将数据66H写入到存储器80H地址单元中
③将存储器80H地址单元中的数据读出到LED数码管中显示
五、实验原理：
总线是多个系统部件之间进行数据传送的公共通路，是构成计算机系统的骨架。借助总线连接，计算机在系统各部件之间实现传送地址、数据和控制信息的操作。因此，所谓总线就是指能为多个功能部件服务的一组公用信息线。
地址总线
数据总线
输入单元
地址寄存器
寄存器
输出单元
存储器
总线传输实验框图如图1-11所示，它将几种不同的设备挂至总线上，有存储器、输入设备、输出设备、寄存器。这些设备都需要有三态输出控制，按照传输要求恰当有序的控制它们，就可实现总线信息传输。
图1-11
总线示意图
LED数码显示管
LED_G
WE
选通
（低电平有效）
写命令
（低电平有效）
数据总线
六、实验过程描述：(详细实验过程及实验结果)
任务1：
线：连线图
②开关复位：
所有开关置零，控制台开关设置如图：
SP05
=NORM
SP06
=RUN
SP03
=STEP
SP04
=RUN
③打开电源，启动：
④写数据到内存
初始化：CLR清零=1
0
1,LDAR=0，CW_G=1，CE=1，WE=1，
显像管：LED_G=1，WE=1
地址：输入地址：10000000，CW_G=0，LDAR=1，START,LDAR=0，CW_G=1
数据：01100110
⑷发写命令：
CW_G=0，CE=0，WE=0，
⑤读出内存数据
初始化：LDAR=0，CW_G=1，CE=1，WE=1
⑵送地址：输入地址10000000,CW_G=0，LDAR=1，START,LDAR=0，CW_G=1
发读命令：CE=0
⑷输出数据到总线：LED_G=0，WE=0
⑥输出数据到数码管显示：
⑴选通：
⑵写入：
七、实验总结：
1、要按照老师及实验指导书一步步操作。
2、要切实根据实验去验证所学知识。。
3、自己不懂，主动问老师，虚心求教。